日本日置C測試儀 3506-10概述

封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等

■ BIN功能

C測量根據(jù)測量值樶多分類為14個(gè)等級※1，易于進(jìn)行分揀等。 ※1 3506,3505樶多為13個(gè)等級。3504-40無BIN功能。

■ 比較器功能

第yi參數(shù)(C)、第2參數(shù)(D)可各自設(shè)置上下限值。判定結(jié)果可進(jìn)行蜂鳴、LED顯示以及外部輸出，設(shè)定值始終顯示。

■ 存儲(chǔ)功能

測量數(shù)據(jù)可保存在主機(jī)。可通過GP-IB，RS-232C讀出。　3506-10 ………………………………..1,000個(gè)　3504-60, 3504-50, 3504-40 ……32,000個(gè)

■ 只需選擇的簡單操作&LED顯示

只需從面板標(biāo)記項(xiàng)目中進(jìn)行選擇，操作簡單。設(shè)定好的測量條件會(huì)點(diǎn)亮，能夠一目了然把握設(shè)定條件。

■ 觸發(fā)同步輸出功能

施加觸發(fā)后輸出測量信號(hào)，僅在測量時(shí)將信號(hào)施加到被測物上。因?yàn)槭窃诮佑|被測物時(shí)流過大電流，因此能夠減少接點(diǎn)的損耗。

■可存儲(chǔ)99※2組測量條件

樶多可保存99組測量條件，可迅速對應(yīng)在重復(fù)測量較多的產(chǎn)線上切換被測物的情況。可利用EXT I/O讀出任意測量條件。 ※2 3506-10樶多為70組。

■標(biāo)配接觸檢查功能

可檢測出測量過程中的接觸錯(cuò)誤。可另外管理有過接觸錯(cuò)誤的樣品，對提高成品率做出貢獻(xiàn)。

日本日置C測試儀 3506-10特點(diǎn)

★ 模擬測量時(shí)間0.6ms(1MHz)的高速測量

★ 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度

★ 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時(shí)可穩(wěn)定測量

★ 根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量